Automated inspection and measurement - 28-30 October 1986, Cambridge, Massachusetts
- Författare
- (Michael J.W. Chen, Robert Thibadeau, chairs/editors.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1987 | USA | vi, 256 sidor. ill. |